本刊讯（记者  王崇民）10月13日，由中国分析测试协会主办的第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2017）在北京国家会议中心落下帷幕。BCEIA 2017学术报告会、展览会取得双丰收。展会期间，科技部黄卫副部长、原科技部副部长大会主席程津培院士和科技部有关司局长等领导共分5批到场参观指导，给予展会高度评价和赞扬！
    BCEIA 2017在参展厂商及展位数量上再创新高，展会占地面积26000平方米，设标准展位1100个，共有500家展商参展，其中境内展商340家，境外展商160家，展示了3000台国际（国内）技术领先的新仪器、新设备。本届实名登记专业人员25547人（不包含展商工作人员），参会学者、观众及展商工作人员达到66370人次。
    本届学术报告会设有大会报告、分会报告、热点论坛、墙报、同期会议等400多场形式多样的学术报告。会议邀请了多名国际著名学者在分析测试领域内就当前热点研究与应用做专题讲演，同时分别举行了10个领域的分会报告。展会同期，还有众多当前的热点论坛和同期会议、论文报展与报告会同时举行，促进了分析测试国际学术交流，增进了各国科学家的友好往来。