013年9月2日，上海——近日，全球分析、测量技术的领导者安捷伦科技公司在上海举办“Cary 7000 通用型分光光度计 VIP 研讨会（下称‘研讨会’）”。多名业界专家、实验室技术人员和用户代表参加了此次研讨会。会上，安捷伦介绍并演示了新品Cary 7000通用型分光光度计（UMS）的应用及其软硬件功能，全面、深入地展现了其作为安捷伦全新一代光学材料测试平台，助力中国用户所实现的突破。同时，安捷伦也与各方探讨了分光光度计在光学材料中的测量及其发展趋势，分享了Cary 7000 UMS革命性技术研发与创新带来实验室功能的提升。
 Cary 7000 UMS是安捷伦于近期发布的革命性新产品，适用于固体样品测量领域。Cary 7000 UMS能够轻松应对所有的固体采样需求，在无人值守状态下自动采集数百张紫外-可见-近红外谱图，并在短短几分钟到几小时内，完成光学组件或薄膜的透射率/反射率的测定，为光学、薄膜/镀膜、太阳能和玻璃等材料的研究、开发和 QA/QC 提供了一站式解决方案，大幅降低每次分析成本，实现完整的样品表征。
研讨会上，安捷伦详细介绍了Cary 7000 UMS的新技术及应用。Cary 7000 UMS延续了Cary 系列产品的优质传统，是一款具有最高灵活性、分析性能和工作效率的紫外-可见光-近红外分光光度计，也是安捷伦全新一代光学材料测试平台。借助Cary 7000 UMS，广大研究人员不论进行常规质量控制还是研究开发都得心应手。尤其侧重中国用户的特殊需求，Cary 7000 UMS尤其擅长测试材料在不同角度下的透射率、反射率，用于光学镀膜、滤光片、玻璃、材料等领域，深入分析材料性能，助力用户实现突破。
现场演示环节中，安捷伦演示了Cary 7000 UMS的软件和硬件功能，参会各方饶有兴致地观摩了整个演示过程。与会专家表示，Cary 7000 UMS无需移动样品便能在多角度、S 和P 偏振光条件下自动测量反射率和透射率，这是一个极大的创新，而且，即使是大角度入射，多角度的数据也能保持一致，这也是一项突破性的功能，Cary 7000 UMS将会成为固体测量领域中杰出的解决方案。
安捷伦不仅关注分析测量技术本身的发展，也更加关注技术能够带给用户的突破。借助今天研讨会、以及今后系列研讨会的举办，安捷伦希望通过与用户不断的交流，吸收用户对自身技术和产品的回馈，帮助用户提高实验室的功能与效率。
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