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日本最大分析仪器展览会JAIMA EXPO 2010 / SIS 召开

时间:2010-09-03 09:26来源:仪器信息网 浏览次数:
仪器信息网讯 2010年9月1日9时40分,与美国Pittcon、德国Analytica及中国BCEIA齐名的日本最大的分析仪器展览会JAIMA EXPO 2010 /SIS 2010于日本千叶县幕张会展中心隆重开幕,展览会为期三天。本届展会由日本分析仪器工业会(JAIMA)和日本科学仪器团体联合会(JSIA) 第一
电子杂志        仪器信息网讯 2010年9月1日9时40分,与美国Pittcon、德国Analytica及中国BCEIA齐名的日本最大的分析仪器展览会“JAIMA EXPO 2010 / SIS 2010”于日本千叶县幕张会展中心隆重开幕,展览会为期三天。本届展会由日本分析仪器工业会(JAIMA)和日本科学仪器团体联合会(JSIA) 第一次联合主办。

  据主办方介绍,本次展会共有1361个展位,与去年相比增加了40%,来自世界各国的450多家科学仪器公司和近三万余行业人士参加,并且来自12个国家的40个国外展团也参加了此次展会。迄今为止,本届展会是JAIMA展会史上规模最大的一次。

日本分析仪器工业会会长堀场厚先生致辞

日本科学仪器团体联合会会长矢泽英人先生致辞

  JAIMA 展会始于1962年,每年举办一次。2010年是第48届,并改名为“JAIMA EXPO 2010 / SIS 2010”。本次JAIMA EXPO 2010的主题是“Securing a Healthy Future with Analytical Technology”;SIS 2010的主题是“Science and Technology:Leading the Way to Tomorrow”。

开幕式现场

  国际知名仪器厂商ThermoFisher、Agilent、PerkinElmer、HORIBA、岛津、JEOL、布鲁克、SII等均在此次展会上露面,其中大部分以日本本土仪器厂商为主。展示的仪器设备包括:实验室科学仪器、过程/现场应用仪器、环境监测检测仪器、安全监控仪器、物理和工业测量仪器以及仪器设备部件、消耗品等。

展会现场

  展会同期还举办相关的学术会议,9月2日还将举办产学研先进技术与仪器设备成果发布会。302场新技术研讨会发布的论文展示了2010年新技术动态,按照仪器种类划分,其中光谱仪器相关论文数显著增长,由去年的33篇上升为40篇;X射线仪器、表面分析仪器的相关论文数分别比去年增加了6篇、4篇。按照应用领域划分,环境监测类发布了54篇,比去年增加了18%;材料检测类也由去年的76篇增加为今年的95篇。

  为展示、宣传中国科学仪器,中国分析测试协会也统一组团参加,仪器信息网作为此次大会唯一一家中国专业媒体参加了此次盛会。请继续留意仪器信息网后续报道。

中国分析测试协会展团部分代表

中国分析测试协会展团部分代表与主办方合影

(责任编辑:admin)
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